冠層分析儀可廣泛應用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質與光能利用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols-1m-2）。

　　本儀器的檢測項目全面，不僅可以獲取冠層參數(shù)還能檢測出面積指數(shù)以及光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測量法相比，采用儀器測量冠層數(shù)據(jù)，可以避免直接測量法所造成的大規(guī)模破壞植被的缺點

　　冠層分析儀的功能特點有：

　　1、非破壞性地測定冠層結構

　　2、可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）

　　3、手持式萬向接頭自動水平調整探頭，

　　4、隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍

　　5、由計算機電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務

　　6、圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)）。對不同方向的冠層進行區(qū)域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理 的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結構參數(shù)的冠層孔隙條件

　　7、冠層分析儀通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯。

　　8、半球圖象上可以設計任何地點、任何時間的太陽視運動軌跡，以及冠層內(nèi)任意時刻的受光狀況。